![\"MicroProf\u00ae200](\"https:\/\/top-seiko.com\/wp\/wp-content\/uploads\/2024\/07\/29be093426047f5b4506f9a04230f50c-1024x660.png\")
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Wir freuen uns, bekannt zu geben, dass Top Seiko den Oberfl\u00e4chenprofiler MicroProf\u00ae200<\/span><\/strong><\/a> eingef\u00fchrt hat, der von der deutschen Firma FRT hergestellt wird. Dieses Instrument erm\u00f6glicht es uns, Oberfl\u00e4chenprofile und Dickenvariationen (TTV) mit hoher Pr\u00e4zision f\u00fcr Dimensionen bis zu \u03c6200 zu messen.<\/p>\n Der MicroProf\u00ae200 ist mit fortschrittlicher ber\u00fchrungsloser Messtechnik ausgestattet, die extrem pr\u00e4zise 3D-Scans von Oberfl\u00e4chen erm\u00f6glicht. Zum Beispiel wurde der MicroProf\u00ae200 in einem aktuellen Projekt verwendet, das Teile von Maschinen zur Halbleiterbearbeitung betraf. Mit der F\u00e4higkeit, schnelle und zuverl\u00e4ssige Messungen durchzuf\u00fchren, verbessert der MicroProf\u00ae200 unsere Effizienz und die Konsistenz unserer Qualit\u00e4tskontrollen erheblich. F\u00fcr weitere Informationen oder technische Unterst\u00fctzung stehen wir Ihnen gerne zur Verf\u00fcgung<\/span><\/strong><\/a>! Gemeinsam gestalten wir die Zukunft der Halbleitertechnologie mit Pr\u00e4zision und Innovation!<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":" Wir freuen uns, bekannt zu geben, dass Top Seiko den Oberfl\u00e4chenprofiler MicroProf\u00ae200 eingef\u00fchrt hat, der von der deutschen Firma FRT hergestellt wird. Dieses Instrument erm\u00f6glicht es uns, Oberfl\u00e4chenprofile und Dickenvariationen (TTV) mit hoher Pr\u00e4zision f\u00fcr Dimensionen bis zu \u03c6200 zu messen. Der MicroProf\u00ae200 ist mit fortschrittlicher ber\u00fchrungsloser Messtechnik ausgestattet, die extrem pr\u00e4zise 3D-Scans von Oberfl\u00e4chen erm\u00f6glicht. Dieses Pr\u00e4zisionsinstrument st\u00e4rkt unsere F\u00e4higkeiten in der Qualit\u00e4tskontrolle und Produktentwicklung und stellt sicher, dass wir die strengen Anforderungen von Branchen wie der Luft- und Raumfahrt, der Medizintechnik und der Halbleiterindustrie erf\u00fcllen. Zum Beispiel wurde der MicroProf\u00ae200 in einem aktuellen Projekt verwendet, das Teile von Maschinen zur Halbleiterbearbeitung betraf. Hierbei wurde das Instrument genutzt, […]<\/p>\n","protected":false},"author":3,"featured_media":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"om_disable_all_campaigns":false,"_monsterinsights_skip_tracking":false,"_monsterinsights_sitenote_active":false,"_monsterinsights_sitenote_note":"","_monsterinsights_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[20],"tags":[],"aioseo_notices":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/top-seiko.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/12259"}],"collection":[{"href":"https:\/\/top-seiko.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/top-seiko.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/top-seiko.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/users\/3"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/top-seiko.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=12259"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/top-seiko.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/12259\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":12265,"href":"https:\/\/top-seiko.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/12259\/revisions\/12265"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/top-seiko.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=12259"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/top-seiko.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=12259"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/top-seiko.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=12259"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}
\nDieses Pr\u00e4zisionsinstrument st\u00e4rkt unsere F\u00e4higkeiten in der Qualit\u00e4tskontrolle und Produktentwicklung und stellt sicher, dass wir die strengen Anforderungen von Branchen wie der Luft- und Raumfahrt, der Medizintechnik und der Halbleiterindustrie erf\u00fcllen.<\/p>\n
\nHierbei wurde das Instrument genutzt, um die Oberfl\u00e4chenprofile und Dickenvariationen eines pr\u00e4zisen Bauteils aus SiC-Platten zu messen.
\nDie detaillierten 3D-Scans des Profilers erm\u00f6glichten es uns, Oberfl\u00e4chenunregelm\u00e4\u00dfigkeiten und sehr feine Dickenvariationen zu erkennen und zu analysieren.<\/p>\n
\nDiese Erg\u00e4nzung zu unserem Ger\u00e4tepark unterstreicht unser Engagement, in die neuesten Technologien zu investieren, um unseren Kunden noch besser dienen zu k\u00f6nnen.<\/p>\n
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