Profilamento delle Superfici ad Alta Precisione

2024.07.30

Siamo lieti di annunciare che Top Seiko ha introdotto un profiler di superfici (MicroProf®200) realizzato dalla società tedesca FRT.
Questo strumento ci consente di misurare i profili delle superfici e le variazioni di spessore (TTV) con alta precisione per dimensioni fino a φ200.
Il MicroProf®200 è dotato di avanzata tecnologia di misurazione senza contatto, che consente scansioni 3D delle superfici estremamente precise.
Questo strumento di precisione potenzia le nostre capacità di controllo qualità e sviluppo prodotto, assicurandoci di soddisfare i requisiti rigorosi di settori come quello aerospaziale, medico e dei semiconduttori.

Ad esempio, in un recente progetto che coinvolgeva parti di macchine per il trattamento dei semiconduttori, il MicroProf®200 è stato utilizzato per misurare i profili delle superfici e le variazioni di spessore di un componente preciso realizzato in piastre di SiC.
Le dettagliate scansioni 3D fornite dal profiler ci hanno permesso di rilevare e analizzare irregolarità superficiali e variazioni di spessore molto fini.
Con la capacità di eseguire misurazioni rapide e affidabili, il MicroProf®200 migliora significativamente la nostra efficienza e la coerenza dei nostri controlli qualità. Questa aggiunta alla nostra linea di attrezzature dimostra il nostro impegno a investire nelle tecnologie più recenti per servire meglio i nostri clienti.

Per ulteriori informazioni o supporto tecnico, non esitare a contattarci!
Per il nostro profilo LinkedIn, clicca qui: LINKEDIN

Insieme, plasmiamo il futuro della tecnologia dei semiconduttori con precisione e innovazione!