{"id":12252,"date":"2024-07-30T19:11:23","date_gmt":"2024-07-30T10:11:23","guid":{"rendered":"https:\/\/top-seiko.com\/?p=12252"},"modified":"2024-07-30T19:11:23","modified_gmt":"2024-07-30T10:11:23","slug":"profilamento-delle-superfici-ad-alta-precisione","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/top-seiko.com\/it\/news\/12252\/","title":{"rendered":"Profilamento delle Superfici ad Alta Precisione"},"content":{"rendered":"<div class=\"flex-shrink-0 flex flex-col relative items-end\">\n<div>\n<div class=\"pt-0\">\n<div class=\"gizmo-bot-avatar flex h-8 w-8 items-center justify-center overflow-hidden rounded-full\">\n<div class=\"relative p-1 rounded-sm flex items-center justify-center bg-token-main-surface-primary text-token-text-primary h-8 w-8\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" class=\"size-large wp-image-12253 aligncenter\" src=\"https:\/\/top-seiko.com\/wp\/wp-content\/uploads\/2024\/07\/b06ed4821f5cff7dc85309acc5395b8e-1024x660.png\" alt=\"MicroProf\u00ae200 Top Seiko ITA\" width=\"1024\" height=\"660\" srcset=\"https:\/\/top-seiko.com\/wp\/wp-content\/uploads\/2024\/07\/b06ed4821f5cff7dc85309acc5395b8e-1024x660.png 1024w, https:\/\/top-seiko.com\/wp\/wp-content\/uploads\/2024\/07\/b06ed4821f5cff7dc85309acc5395b8e-300x193.png 300w, https:\/\/top-seiko.com\/wp\/wp-content\/uploads\/2024\/07\/b06ed4821f5cff7dc85309acc5395b8e-768x495.png 768w, https:\/\/top-seiko.com\/wp\/wp-content\/uploads\/2024\/07\/b06ed4821f5cff7dc85309acc5395b8e-1536x990.png 1536w, https:\/\/top-seiko.com\/wp\/wp-content\/uploads\/2024\/07\/b06ed4821f5cff7dc85309acc5395b8e.png 1800w\" sizes=\"(max-width: 1024px) 100vw, 1024px\" \/><\/p>\n<p>Siamo lieti di annunciare che Top Seiko ha introdotto un profiler di superfici (<a href=\"https:\/\/en.advantec-global.com\/product\/frt\/\"><span style=\"color: #3366ff;\"><strong>MicroProf\u00ae200<\/strong><\/span><\/a>) realizzato dalla societ\u00e0 tedesca <strong>FRT<\/strong>. <br \/>\nQuesto strumento ci consente di misurare i profili delle superfici e le variazioni di spessore (TTV) con alta precisione per dimensioni fino a \u03c6200. <br \/>\nIl MicroProf\u00ae200 \u00e8 dotato di avanzata tecnologia di misurazione senza contatto, che consente scansioni 3D delle superfici estremamente precise. <br \/>\nQuesto strumento di precisione potenzia le nostre capacit\u00e0 di controllo qualit\u00e0 e sviluppo prodotto, assicurandoci di soddisfare i requisiti rigorosi di settori come quello aerospaziale, medico e dei semiconduttori.<\/div>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div>\n<div class=\"group\/conversation-turn relative flex w-full min-w-0 flex-col agent-turn\">\n<div class=\"flex-col gap-1 md:gap-3\">\n<div class=\"flex flex-grow flex-col max-w-full\">\n<div class=\"min-h-[20px] text-message flex w-full flex-col items-end gap-2 whitespace-pre-wrap break-words [.text-message+&amp;]:mt-5 overflow-x-auto\" dir=\"auto\" data-message-author-role=\"assistant\" data-message-id=\"92aa121d-64f0-4d5b-bb9e-53393e61a54c\">\n<div class=\"flex w-full flex-col gap-1 empty:hidden first:pt-[3px]\">\n<div class=\"markdown prose w-full break-words dark:prose-invert dark\">\n<p>Ad esempio, in un recente progetto che coinvolgeva parti di macchine per il trattamento dei semiconduttori, il MicroProf\u00ae200 \u00e8 stato utilizzato per misurare i profili delle superfici e le variazioni di spessore di un componente preciso realizzato in piastre di SiC. <br \/>\nLe dettagliate scansioni 3D fornite dal profiler ci hanno permesso di rilevare e analizzare irregolarit\u00e0 superficiali e variazioni di spessore molto fini. <br \/>\nCon la capacit\u00e0 di eseguire misurazioni rapide e affidabili, il MicroProf\u00ae200 migliora significativamente la nostra efficienza e la coerenza dei nostri controlli qualit\u00e0. Questa aggiunta alla nostra linea di attrezzature dimostra il nostro impegno a investire nelle tecnologie pi\u00f9 recenti per servire meglio i nostri clienti.<\/p>\n<p>Per ulteriori informazioni o supporto tecnico, non esitare a\u00a0<span style=\"color: #3366ff;\"><a style=\"color: #3366ff;\" href=\"https:\/\/top-seiko.com\/it\/contact\/\"><strong>contattarci<\/strong><\/a><\/span>!<br \/>\nPer il nostro profilo LinkedIn, clicca qui:<span style=\"color: #3366ff;\">\u00a0<a style=\"color: #3366ff;\" href=\"https:\/\/www.linkedin.com\/company\/top-seiko-co-ltd\/\"><strong>LINKEDIN<\/strong><\/a><\/span><\/p>\n<p>Insieme, plasmiamo il futuro della tecnologia dei semiconduttori con precisione e innovazione!<\/p>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Siamo lieti di annunciare che Top Seiko ha introdotto un profiler di superfici (MicroProf\u00ae200) realizzato dalla societ\u00e0 tedesca FRT. Questo strumento ci consente di misurare i profili delle superfici e le variazioni di spessore (TTV) con alta precisione per dimensioni fino a \u03c6200. Il MicroProf\u00ae200 \u00e8 dotato di avanzata tecnologia di misurazione senza contatto, che consente scansioni 3D delle superfici estremamente precise. Questo strumento di precisione potenzia le nostre capacit\u00e0 di controllo qualit\u00e0 e sviluppo prodotto, assicurandoci di soddisfare i requisiti rigorosi di settori come quello aerospaziale, medico e dei semiconduttori. 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