Präzise Oberflächenprofilierung - Top Seiko Co,. Ltd.

 

Wir freuen uns, bekannt zu geben, dass Top Seiko den Oberflächenprofiler MicroProf®200 eingeführt hat, der von der deutschen Firma FRT hergestellt wird. Dieses Instrument ermöglicht es uns, Oberflächenprofile und Dickenvariationen (TTV) mit hoher Präzision für Dimensionen bis zu φ200 zu messen.

Der MicroProf®200 ist mit fortschrittlicher berührungsloser Messtechnik ausgestattet, die extrem präzise 3D-Scans von Oberflächen ermöglicht.
Dieses Präzisionsinstrument stärkt unsere Fähigkeiten in der Qualitätskontrolle und Produktentwicklung und stellt sicher, dass wir die strengen Anforderungen von Branchen wie der Luft- und Raumfahrt, der Medizintechnik und der Halbleiterindustrie erfüllen.

Zum Beispiel wurde der MicroProf®200 in einem aktuellen Projekt verwendet, das Teile von Maschinen zur Halbleiterbearbeitung betraf.
Hierbei wurde das Instrument genutzt, um die Oberflächenprofile und Dickenvariationen eines präzisen Bauteils aus SiC-Platten zu messen.
Die detaillierten 3D-Scans des Profilers ermöglichten es uns, Oberflächenunregelmäßigkeiten und sehr feine Dickenvariationen zu erkennen und zu analysieren.

Mit der Fähigkeit, schnelle und zuverlässige Messungen durchzuführen, verbessert der MicroProf®200 unsere Effizienz und die Konsistenz unserer Qualitätskontrollen erheblich.
Diese Ergänzung zu unserem Gerätepark unterstreicht unser Engagement, in die neuesten Technologien zu investieren, um unseren Kunden noch besser dienen zu können.

Für weitere Informationen oder technische Unterstützung stehen wir Ihnen gerne zur Verfügung!
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Gemeinsam gestalten wir die Zukunft der Halbleitertechnologie mit Präzision und Innovation!